Inspekční videomikroskop umožňuje kontrolu optických konektorů pro odhalení nečistot a poškození ferulle. Digitální sondu s 5Mpix CMOS snímačem lze připojit přes USB2 k libovolnému PC, k měřícím platformám a přístrojům EXFO nebo k samostatnému displeji MAX-FIP

FIP-410B – disponuje třemi stupni přiblížení a možností ukládání protokolů o kontrole ve formátu PDF

FIP-420B – oproti nižší radě je navíc vybaven funkcí automatického centrování vlákna na zobrazovací plochu a možností provádění automatické PASS/FAIL analýzy podle IEC/IPC standardů nebo uživatelsky nastavitelných parametrů

FIP-430B – nejvyšší model má dále funkci automatického zaostření a pořízení snímku, uživatel tak pouze připojí sondu ke konektoru a vyčká cca 7 sekund na výsledný protokol

Důležitý parametr je bezpečnost techniků při inspekci. Technik nepřichází do přímého kontaktu s optickým zářením, které může nevratně poškodit zrak !!!

Videomikroskop je dostupný včetně širokého množství příslušenství (adaptérů) pro jednotlivé typy konektorů.